中耳炎穿孔術(shù)后電測聽無聽力但誘發(fā)電位正常，可能由多種因素導(dǎo)致，如術(shù)后恢復(fù)階段、中耳結(jié)構(gòu)改變、內(nèi)耳損傷、聽神經(jīng)通路代償及測試誤差等。 1. 術(shù)后恢復(fù)階段：術(shù)后短期內(nèi)，耳部組織仍處于修復(fù)階段，功能尚未完全恢復(fù)，可能出現(xiàn)電測聽結(jié)果異常。 2. 中耳結(jié)構(gòu)改變：手術(shù)可能改變了中耳的傳音結(jié)構(gòu)，影響聲音的傳導(dǎo)，導(dǎo)致電測聽結(jié)果不佳。 3. 內(nèi)耳損傷：雖然聽神經(jīng)和腦干傳導(dǎo)通路正常，但中耳炎癥可能波及內(nèi)耳，造成內(nèi)耳輕微損傷，影響聽力。 4. 聽神經(jīng)通路代償：聽神經(jīng)通路可能通過自身代償機制，在誘發(fā)電位檢查中表現(xiàn)正常，但實際聽力受損。 5. 測試誤差：不同的聽力測試方法存在一定局限性和誤差，可能導(dǎo)致結(jié)果不一致。 總之，出現(xiàn)這種情況需要綜合分析，必要時進行進一步檢查和評估，以明確具體原因，并采取相應(yīng)的治療或干預(yù)措施。